涂層測厚儀的核心原理基于物理場(磁場或渦流)的變化，間接換算出涂層厚度。
 

　　涂層測厚儀主要分為兩類：
 

　　磁性測厚法
 

　　適用基材：鐵磁性金屬(如鋼、鐵、鎳等)。
 

　　原理：探頭內置磁鐵或電磁線圈，通電后產生穩定磁場。當探頭接觸涂層表面時，非磁性涂層(如油漆、橡膠)會“阻隔”磁場，導致磁路路徑變長，磁通量減小、磁阻增大。傳感器捕捉磁場變化，轉化為電信號，再通過校準曲線換算為涂層厚度。
 

　　特點：測量精度高，適用于薄涂層檢測，是工業中常用的方法之一。
 

　　渦流測厚法
 

　　適用基材：非鐵磁性導電金屬(如鋁、銅、鎂等)。
 

　　原理：探頭內置高頻振蕩線圈，通電后產生高頻交變磁場。當探頭靠近基材時，磁場在基材表面感應出渦流。涂層(非導電)會“削弱”磁場強度，導致渦流強度降低，進而影響探頭線圈的阻抗。儀器通過檢測阻抗變化，換算為涂層厚度。
 

　　特點：適用于非鐵金屬基材，但精度略低于磁性法。